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        非接觸式3D共聚焦顯微系統

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        德國Mahr MarSurf CM explorer

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        全新版本的MarSurf CM explorer是表面精密三維測量和分析的全方位解決方案系統。該設備適合實驗室環境以及生產環境中使用,只需要簡單幾個步驟,就能輕松提供可靠3D測量。
        ●測量速度快,即使全分辨率掃描
        ●人性化設計理念
        ●防碰撞檢測系統使得測量更加安全
        ●16位高動態范圍功能
        ●高清拼接-即使大范圍測量始終高分辨率
        相關應用:對材料/產品/工件做表面非接觸式三維形貌掃描,分析2D/3D表面形貌、輪廓幾何尺寸(長度、寬度、深度、角度、面積、體積等)、表面粗糙度、平整度、翹曲、曲率、面形精度、摩擦磨損及腐蝕等參數指標。
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